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冷场发射SEM
作者: 来源 : 时间:2014-11-26 字体<    >
冷场发射扫描电子显微镜(日立S-4800

 

二次电子成像分辨率:1.0 nm(15 kV)  

放大倍数:20倍~80万倍 

加速电压:0.130kV(配有减速功能) 

主要附件:Horiba X射线能谱仪, 

微区成分分析范围:Be(4)U(92)

预约方式:http://caslims.cas.cn

电话:010-82545519

 

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