报告摘要：

原位透射电镜技术是在透射电镜高分辨观察的同时，引入电、光、力、热等外场条件，观察样品的结构演变，测量样品的物性，建立物性与其微观结构的关联。本报告首先介绍课题组所开发的基于扫描探针的原位电镜测量系统，随后介绍使用此系统在以往开展的纳米操纵与测量，以及原子尺度物理/化学观测表征方面的工作。

报告人简介：

许智，男，中科院物理所副主任工程师。2008 年春在中科院物理所获得博士学位，留所工作至今。2006 年在美国斯坦福大学开展合作研究，2008年至 2010 年，2013年至2014年期间，访问日本国立材料研究所（NIMS）进行合作研究。作为主要人员参与了大型先进纳米表征与测量设备：原位微区结构分析与性质测试联合系统（TEM-STM 联合系统）的研制。作为项目共同负责人承担国家重大科研装备研制项目“超高时空分辨原位多尺度量子测量系统的研制”。目前研究方向为透射电镜原位测量技术以及此技术在纳米材料与纳米电子学中的应用。已在 Nature、J. Am. Chem. Soc.、Nano Lett.、 ACS Nano、Adv. Mater.、App. Phys. Lett.等各类高水平期刊上发表超过 50 篇研究论文。获得4项发明专利授权。2009 年获得北京市科学技术一等奖， 2013年获得澳大利亚ARC Discovery Early Career Researcher Award (DECRA) 。