报告人简介：

霍峰蔚教授，南京工业大学先进材料研究院副院长，国家自然科学基金“杰出青年科学基金”获得者，中共中央组织部“青年千人”计划，江苏省特聘教授。目前课题组集中在以下两个研究方向：（1）多孔配位聚合物复合材料的设计与合成，及在选择性催化方面的应用；（2）发展高通量纳米图案化方法，包括聚合物笔纳米印刷等，用于纳米器件，生物芯片，光学器件的研究。承担了自然科学基金委杰出青年科学基金、面上项目、青年千人、江苏省特聘教授等项目。近年来，在国外著名刊物发表SCI论文90多篇，包括一作Science, Nature Nanotechnol., 通讯联系人Nature Chem.，Angew. Chem. Int. Ed.，Adv. Mater.等。

报告摘要：

过去的二十年里，在高分子组装及超分子体系的快速发展中扫描探针显微镜（SPM）起到了显著的助推作用。扫描探针显微镜是利用探针直接扫描样品表面，从而获取样品表面信息，并最终直接以三维图像的方式呈现出来。虽然扫描探针显微镜具有较高的纵向分辨率，不需要对样品进行任何特殊处理且具有能在常压条件、甚至液体环境下工作等优点，但这类显微镜的扫描效率比较低，扫描范围也比较小。我们致力于开发研制一种新型高效、大面积、高分辨率的显微镜系统，称之为并行扫描光学显微镜(Parallel Scanning Optical Microscopy, PSOM)。PSOM的设计依据主要是在聚合物探针与样品表面相互作用的过程中，聚合物探针背面反射光强度会发生改变，而这种反射光强度的变化与样品表面的高度息息相关，因此通过视频记录分析聚合物阵列中数万根针尖反射光强度的变化，便可以将其转化为样品表面实时的高度信息，最终获得样品表面图案。与传统的AFM不同，首先，PSOM利用的是反射光强度变化信号，而不是显微探针受力大小；其次，在扫描过程中，POSM利用的是成千上万根探针同时工作，因此PSOM很可能提高传统AFM成像的效率，从而实现快速高效地大面积获取纳米结构表面性质。PSOM在利用PPL技术的基础上同时融合了传统光学显微镜快速大面积成像的特点以及传统AFM极高纵向分辨率的优点，使得快速获取样品表面大面积高分辨图像成为可能。