报 告 题目:原位电子显微镜中纳米材料的性能研究
报 告 人:魏贤龙 研究员,北京大学电子系
时 间:2017年5月17日(星期三),下午2:00
地 点:南楼4层会议室
邀 请 人:刘新风 研究员(Tel:82545778)
报告人简介:
魏贤龙,2009年7月毕业于北京大学电子学系,获博士学位,之后前往日本国立材料研究所从事博士后研究,2011年4月任该研究所独立研究员,2012年9月回北京大学工作,现为北京大学“百人”研究员。他主要致力于原位电子显微学、真空纳米电子学领域的研究。
报告摘要:
研究单体纳米材料的性能并构建其性能-结构关系对于深入理解和调控纳米材料的性能具有重要的意义。原位电子显微镜除了可以像传统电子显微镜一样表征材料的结构和成分,还可以对单体纳米材料进行加工和性能测试,为研究单体纳米材料的性能并构建其性能-结构关系提供了一个很好的手段。报告人将介绍近年来他利用原位电子显微镜研究纳米材料所取得的一些进展,包括(1)发展多种方法并实现了相关纳米材料的原位加工和性能调控;(2)发展方法并原位研究多种重要纳米材料(如碳纳米管、石墨烯、MoS2等)的重要物理性能(如断裂强度和韧性、电子发射、二维材料层间电导和摩擦力等),构建了所研究性能与材料结构的关系。